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通过JTAG对单板进行测试的方法以及设备技术
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文档序号:2873855
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一种通过JTAG对单板进行测试的方法,该单板包括一个JTAG芯片以及与其相关的一个或多个其他芯片,其特征在于,该方法包括步骤: 通过分析该JTAG芯片的BSDL文件,得到包含该JTAG芯片的BSR信息的相关信息; 接收用户命令;...
该专利属于UT斯达康(中国)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过UT斯达康(中国)有限公司授权不得商用。
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