通过JTAG对单板进行测试的方法以及设备技术

一种通过ＪＴＡＧ对单板进行测试的方法，该单板包括一个ＪＴＡＧ芯片以及与其相关的一个或多个其他芯片，其特征在于，该方法包括步骤： 通过分析该ＪＴＡＧ芯片的ＢＳＤＬ文件，得到包含该ＪＴＡＧ芯片的ＢＳＲ信息的相关信息； 接收用户命令； 根据所得到的ＢＳＲ信息将该命令转换为ＴＡＰ控制信号电平，并将其施加到所述ＪＴＡＧ芯片上； 从所述ＪＴＡＧ芯片读取其输入管脚的管脚状态，或者将其输出管脚的输出状态改变； 根据所述读取的管脚状态或者对所述输出管脚所改变的输出状态，对所述单板进行诊断调试。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子设备领域，尤其涉及一种通过JTAG(JointTest Action Group)对单板进行测试的方法和设备。
技术介绍
在单板的调测过程中，常常需要对单板硬件进行诊断，以判断是芯片损坏或者是PCB(Printed Circuit Board)故障或者加工故障(短路、虚焊等)。在现有技术中最常用的通过示波器去观察被测芯片的管脚状态。但是，这种方式存在很多缺陷，比如不小心将芯片相连管脚短路损坏芯片，或者芯片管脚很多，很难测量，或者芯片使用BGA(Ball Grid Array)等封装，示波器探头根本无法放到管脚上。如果不知芯片是损坏还是焊接问题，则需要更换芯片，此盲目操作损失很大。目前很多芯片支持IEEE 1149.1以及相关标准的JTAG功能。IEEE 1149.1目的是完成芯片的互联测试、芯片自身测试、以及在芯片正常操作时获取和修改电路状态。该标准对TAP(Test AccessPort)、测试逻辑结构、TAP控制器、指令寄存器、指令、测试数据寄存器、旁路寄存器、边界扫描寄存器、设备ID寄存器等做了具体规定。通过JTAG可以完成对芯片的测试、对PLD(Prog本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：魏昊，
申请(专利权)人：UT斯达康中国有限公司，
类型：发明
国别省市：