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本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样，采用定时截尾一次计数抽样检验方法，即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下，试验到规定时间t时截止试验，试验中...
该专利属于常州市创捷防雷电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过常州市创捷防雷电子有限公司授权不得商用。

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