一种电路元器件工作寿命抽样检验方法技术

本发明专利技术公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样，采用定时截尾一次计数抽样检验方法，即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下，试验到规定时间t时截止试验，试验中出现的不合格样品数r，不应超过规定的合格判定数c。本发明专利技术设计的抽样检验方案，解决了目前压敏电阻器(MOV)和避雷器阀片(MOA)无寿命评定方法可循的难题。循的难题。循的难题。

【技术实现步骤摘要】
一种电路元器件工作寿命抽样检验方法


[0001]本专利技术公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，特别是涉及一种Weibull寿命分布函数的电路元器件，在规定工作应力下，评定工作寿命的抽样检验的设计方法。

技术介绍

[0002]市场对于有可靠性指标的压敏电阻器(MOV)，避雷器阀片(MOA)，以及MOV型SPD的需求，日趋迫切。例如安装在维修人员难以到达地点的产品，要求有10年或20年的可靠工作寿命，如何进行寿命评定，成为国际技术标准必须解决的紧迫课题。
[0003]此前，对于MOV在电压/温度应力(U
‑
T应力)下的寿命鉴定，已经提出过一个失效率等级试验抽样方案。该方案是依据MIL
‑
STD
‑
690D(GJB
‑
2649)制定的，它只适用于失效率λ(t)为常数的寿命分布，而不适用于寿命分布类型是Weibull分布的情况。
[0004]近几年的实验研究表明，MOV和MOA在电压
‑
温度
‑
湿度应力下，和在脉冲电流应力下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样检验，采用定时截尾一次计数抽样检验方法，其特征在于包括如下步骤：(1)确定被评定电路元器件要求的t
R
的额定值t
RR
，t
R
是产品在规定工作应力下可靠度为R的平均寿命，当工作应力是连续电压
‑
温度
‑
湿度时，t
R
的单位为小时，当工作应力是脉冲电流时，t
R
的单位为脉冲次数；(2)确定被评定电路元器件的Weibull寿命分布形状参数β；(3)选定抽样试验样品数n和允许不合格品数c；(4)依据上面步骤(1)
‑
(3)确定的[t
...

【专利技术属性】
技术研发人员：张南法，束静，张梅，
申请(专利权)人：常州市创捷防雷电子有限公司，
类型：发明
国别省市：