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本发明涉及一种测试ＥＥＰＲＯＭ的电路及其测试方法，本发明的电路包括ＥＥＰＲＯＭ（１），微控制器（２），显示驱动器（３），数码显示器（４）；所述的微控制器（２）与ＥＥＰＲＯＭ（１）双向连接，显示驱动器（３）在微控制器（２）控制下驱动所述的数码...该专利属于上海华园微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华园微电子技术有限公司授权不得商用。
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