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本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及芯片测试装置，包括检测基架、放置板和检测单元，放置板通过弹性柱安装在检测基架上，放置板设有放置槽，放置槽底端开设有检测通道，检测通道对准芯片的所有触点，放置槽两侧活动设有多个定位块，检测单元包括上检测...
该专利属于江苏邦融微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏邦融微电子有限公司授权不得商用。

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