下载一种半导体芯片微调测试装置的技术资料

文档序号:28638250

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本实用新型公开了一种半导体芯片微调测试装置,包含底板、侧板、控制箱及检测组件,底板的一侧固定安装有侧板,且底板远离侧板的一侧设有检测组件,底板的上表面上固定安装有控制箱,底板与侧板间设有具有双向微调结构的调节组件,本实用新型在确保测试支架仍...
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