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用于减少基于扫描集成电路中的ＡＴＥ（自动测试设备）（２０２）的测试数据量和测试实施时间的传输器（２０８）、系统（２０１）和方法。基于扫描集成电路包含多路扫描链、每个扫描链包括连续连接的多路扫描单元。传输器（２０８）是连接至任意虚拟扫描控制器...
该专利属于美国华腾科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过美国华腾科技股份有限公司授权不得商用。

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