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本公开提供了用于在自动化测试系统中检测和识别热开关事件的原因的装置和方法。可使用定位在系统中的机械继电器附近的一个或多个天线来感测电磁辐射。天线可被配置成对在热开关事件期间生成的类型的电磁辐射进行响应。可处理由天线测量的信号以确定该信号是否...
该专利属于泰瑞达公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰瑞达公司授权不得商用。

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