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本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种载具板自校准的高精度测试方法。具体测试方法如下：S1：在测试载具板上设有芯片专用测试管座与4颗继电器的连接电路；S2：在芯片专用测试管座上放置被测芯片；S3：当测试载具板进行自校准模式时，4颗继电...
该专利属于胜达克半导体科技(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜达克半导体科技(上海)有限公司授权不得商用。

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