温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
提供一种自适应的芯片自动化测试方法。该方法包括：通过SPI获取测试基台发送的芯片测试指令；根据该芯片测试指令触发该芯片运行芯片自测试程序，以获取测试结果；通过SPI将该测试结果反馈给该测试基台。该方法可涉及通信、人工智能、芯片测试等技术，该...该专利属于北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司授权不得商用。