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全区域影像测试方法与架构技术
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文档序号:28619914
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一种全区域影像测试方法与架构,用于对具有多个待测元件的12英寸晶圆,使用一探针测试装置,探针测试装置由多个测试单元所构成,测试单元数目为64个且呈对称分布,每个测试单元设有一光源单元及一影像撷取卡。在执行测试方法时,其步骤包括由移动平台承载...
该专利属于松翰股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过松翰股份有限公司授权不得商用。
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