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本发明一种半导体的连接不良检测装置，通过引线键合机、半导体的连接不良检测装置、超声波振荡器、A/D转换器、数字信号处理装置、数据存储装置、确定装置、焊接机控制装置等部件之间的相互配合，与现有技术相比，即使使用相同的半导体元件，电压和电流的有...
该专利属于艾极倍特(上海)半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过艾极倍特(上海)半导体设备有限公司授权不得商用。

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