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本申请公开了一种监测碳化硅功率模块老化程度的方法及装置，用以解决现有的对碳化硅功率模块寿命进行的测试方法，不能实时反映碳化硅功率模块老化程度的技术问题。方法包括：获取碳化硅功率模块上的若干热电偶分别对应的温度值；其中，若干热电偶通过耐高温导...
该专利属于元山(济南)电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过元山(济南)电子科技有限公司授权不得商用。

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