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本发明属于集成电路性能测试技术领域，尤其为一种集成电路散热性能测试方法，包括以下步骤：步骤S1：将集成电路元器件固定于风洞中；步骤S2：在室温一定，自然对流，加热功率恒定的条件下进行一次测试；步骤S3：在加热功率恒定，按照一定的通过集成电路...
该专利属于南京能晶电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京能晶电子科技有限公司授权不得商用。

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