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受测试集成电路的预测性自适应电源制造技术
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下载受测试集成电路的预测性自适应电源的技术资料
文档序号:2861522
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一主电源,其通过通道电阻向一受测试集成电路器件(DUT)的功率终端提供电流。IC内的晶体管响应时钟信号边沿而开关,测试期间,在提供给DUT的时钟信号边沿之后,该DUT在功率输入终端对电流的需求暂时性地增加。为了限制功率输入终端处的电压变化(...
该专利属于佛姆费克托公司所有,仅供学习研究参考,未经过佛姆费克托公司授权不得商用。
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