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本发明提供粒子测定装置、校正方法和测定装置，能使用校正用粒子简单地进行拍摄目标粒子等对象物的测定装置的校正。图像分析部(21)取得以时间间隔Δt得到的多个拍摄图像，(a)在校正模式下，根据所述多个拍摄图像中的校正用粒子的像素单位的光点的位移...该专利属于国立研究开发法人产业技术综合研究所;理音株式会社;铠侠股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国立研究开发法人产业技术综合研究所;理音株式会社;铠侠股份有限公司授权不得商用。