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本发明公开了一种实现模拟集成电路相对精度模型的方法，它包括如下步骤：（１）建立反映工艺状态的普通ＳＰＩＣＥ器件模型；（２）测试反映该工艺相对精度的实验数据，并总结ΔＶｔ的标准偏差、ΔＩｏｎ的标准偏差与器件尺寸的关系；（３）在普通ＳＰＩＣＥ器...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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