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本发明提供了一种射频前端模块量产不良芯片分类方法，其能够根据不良品的测试数据进行分类，从而对不同风险等级的类进行管控分析，提高了风险失效的探测率，进而提高了产品的出货质量。...
该专利属于全讯射频科技(无锡)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过全讯射频科技(无锡)有限公司授权不得商用。

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