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具有裂缝检测结构的半导体元件及其制备方法技术
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文档序号:28538556
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本公开提供一种半导体元件及其制造方法。该半导体元件包括一基板;一第一裂缝检测结构,其位于该基板中且包括向内地位于该基板中的一第一绝缘堆叠、位于该第一绝缘堆叠上的一第一底部导电层、和位于该第一底部导电层上的一第一填充层;以及一第二裂缝检测结构...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
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