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单晶片的内建温度侦测装置及其保护机制制造方法及图纸
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文档序号:28538225
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本发明提供一种单晶片的内建温度侦测装置及其保护机制,其中,该单晶片的内建温度侦测装置包含一内建温度侦测器与一温度比较器。该内建温度侦测器侦测所述单晶片的一单晶片温度。该温度比较器接收该单晶片温度与一临界温度,且比较该单晶片温度与该临界温度,...
该专利属于新唐科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过新唐科技股份有限公司授权不得商用。
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