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一种透明或半透明介质缺陷检测系统，包括，待检测的透明或半透明介质，至少一个光源，用于将光线照射至所述的透明或半透明介质，光场相机，拍摄获取所述透明或半透明介质的图像，用以检测出所述的透明或半透明介质存在的三维缺陷，该检测的步骤包括：用光圈匹...
该专利属于奕目(上海)科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过奕目(上海)科技有限公司授权不得商用。

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