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本申请公开了一种专用集成电路（ＡＳＩＣ）的设计结构。该ＡＳＩＣ的设计结构包括一定数量的冗余的计算单元，以便在检测发现缺陷计算单元时，可以通过从缺陷单元向原来冗余的单元的重新寻址，维持ＡＳＩＣ的全部功能。缺陷单元的标识以及功能的重新寻址是利用...
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