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本发明公开了一种半导体功率器件测试加热台，从上到下依次包括陶瓷层和轻质金属层，所述陶瓷层的厚度不大于5mm；所述轻质金属层的上表面均匀开设有若干条形槽，每个所述的条形槽内设有加热元件和多个温度探头，所述加热元件沿所述条形槽的长度方向埋设，所...
该专利属于浙江大学绍兴市科技创业投资有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学绍兴市科技创业投资有限公司授权不得商用。

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