下载用于深硅刻蚀后晶片的传送装置的技术资料

文档序号:28465551

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本申请涉及一种用于深硅刻蚀后晶片的传送装置,其包括:检测机台和安装在所述检测机台上的机台手臂,所述检测机台上设有用于对晶片进行检测的检测组件;所述机台手臂包括起抓取作用的抓取部、起限位作用的限位部和设置在所述机台手臂上的传感器。该深硅刻蚀后...
该专利属于苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司授权不得商用。

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