温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种增加测试机向量深度的方法，1)在测试芯片的测试板上单独安装满足测试要求的存储器；2)程序会把超标的向量先写入到测试板的存储芯片中；3)当程序执行到某一个测试项时，测试项向量超过测试机本身深度时，测试板上存储器内向量分批读入测...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。