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本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法，包括：（１）建立记忆体原始成品率模型；（２）建立记忆体特征失效成品率的模型；（３）记忆体特征失效的修复计算；（４）记忆体最终成品率的计算；（５）记忆体特征失效和工艺模块的缺陷率的互逆运...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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