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一种芯片及芯片测试方法。所述芯片测试方法包含以下步骤：由编码电路输出多个测试序列至多个扫描链；由多个扫描链依据多个测试序列产生多个扫描输出数据；以及由解码电路依据多个扫描输出数据判断多个扫描链是否存在错误。...
该专利属于瑞昱半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞昱半导体股份有限公司授权不得商用。

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