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本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种静电释放检测方法及装置，该方法包括：启动静电释放ESD检测，在检测到LCD存在ESD问题时，再检测撕裂效应TE信号是否正常，在所述TE信号正常时，刷新LCD，避免了因静电释放对LCD硬件干扰造成TE信号消...
该专利属于展讯半导体(成都)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过展讯半导体(成都)有限公司授权不得商用。

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