【技术实现步骤摘要】
静电释放检测方法及装置
本申请涉及电子
,尤其涉及一种静电释放检测方法及装置。
技术介绍
功能机时在使用时需要通过多种检测,其中静电释放(Electro-Staticdischarge,ESD)测试是功能机的检测之一。在功能机进行ESD测试时,静电会对液晶显示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)硬件干扰造成LCD中用于信号反馈的撕裂效应(TearEffect,TE)信号消失,从而导致功能机的故障或误动作,例如导致功能机花屏、定屏或黑屏,影响着用户对功能机整体性能的体验。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种静电释放检测方法及装置,能够加快ESD恢复速度,防止出现系统卡死定屏问题,提高用户体验。第一方面,本申请实施例提供一种静电释放检测方法,应用于功能机,所述方法包括:启动静电释放ESD检测;在检测到液晶显示屏LCD存在所述ESD问题时,检测撕裂效应TE信号是否正常;在所述TE信号正常时,刷新所述LCD。第二方面,本申请实施例提供一种静电释放检 ...
【技术保护点】
1.一种静电释放检测方法,其特征在于,应用于功能机,所述方法包括:/n启动静电释放ESD检测;/n在检测到液晶显示屏LCD存在ESD问题时,检测撕裂效应TE信号是否正常;/n在所述TE信号正常时,刷新所述LCD。/n
【技术特征摘要】
1.一种静电释放检测方法,其特征在于,应用于功能机,所述方法包括:
启动静电释放ESD检测;
在检测到液晶显示屏LCD存在ESD问题时,检测撕裂效应TE信号是否正常;
在所述TE信号正常时,刷新所述LCD。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测TE信号是否正常,包括:
获取第一寄存器,所述第一寄存器用于指示是否接收到所述TE信号;
在所述第一寄存器的值为第一值时,检测所述TE信号为正常;
在所述第一寄存器的值为第二值时,检测所述TE信号为异常。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在检测撕裂效应TE信号是否正常之前或在所述TE信号异常时,向所述LCD发送复位命令,并从所述LCD的芯片上下载初始化代码,所述复位命令用于将所述LCD的参数进行复位,所述初始化代码用于初始化所述LCD的参数。
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在在于,所述ESD问题包括定屏问题和花屏问题;
所述定屏问题的检测具体包括:
获取ESD信号量,所述ESD用于指示当前的运行程序;
在第一时长后,读取ESD全局变量;
若所述ESD全局变量为所述第一值,检测所述LCD出现所述定屏问题。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述花屏问题的检测具体包括:
获取第二寄存器,所述第二寄存器用于指示所述LCD的显示状态;
将所述第二寄存器的值与第三值进行比较,所述第三值为所述功能机开机时所述第二寄...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗国庆,王松涛,岳艾超,
申请(专利权)人:展讯半导体成都有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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