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本实用新型公开了一种电子芯片设计试验检测装置，涉及电子芯片检测领域，包括检测台，所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置，所述支架杆位于位于放置装置的一侧，所述辅助装置位于放置装置的另一侧。本实用新型所述的一种电子芯片设计试验...
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