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本公开涉及多参数同步测量方法、装置及系统，所述方法包括：获取被测物的表面在未加热时的初始图像、所述被测物的表面在加热过程中的考核图像及所述被测物的表面的参考点在加热过程中的参考温度；确定所述初始图像及所述考核图像的各个通道的光强；确定所述被...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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