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检查指示信息产生装置、基板检查系统、检查指示信息产生方法以及检查指示信息产生程序制造方法及图纸
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文档序号:28136687
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本发明根据表示基板的面状导体IP、导电部P、配线W、及通孔V如何导通连接的导电结构信息D1,所述基板包括:导体层Lc、设置有多个导电部P的基板面F、配线层L、以及通孔V,当存在多个经由配线层L的配线W而相互导通的导电部P彼此的群组时,执行如...
该专利属于日本电产理德股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过日本电产理德股份有限公司授权不得商用。
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