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本实用新型涉及一种半导体芯片带用检测装置，包括底座、方形检测板和压盖机构；方形检测板固定在底座上；方形检测板的两侧沿着其长度方向设有滑轨，方形检测板的一端为芯片带的进料端，方形检测板的另一端为芯片带的出料端；方形检测板的底部若干可容纳芯片的...
该专利属于江阴市州禾电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江阴市州禾电子科技有限公司授权不得商用。

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