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本发明公开了一种集成电路量产测试异常故障监控系统，涉及半导体测试应用技术领域；本发明包含的功能为多种报警类型设定、测试项目显示设定、ATE测试数据存储、实时数据监控控制、多种报警形式设定、测试ATE与测试终端通讯；本发明为在线数据监控工具，...
该专利属于南京宏泰半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京宏泰半导体科技有限公司授权不得商用。

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