专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
华为技术有限公司
>
使用错误校正码和数据路径交织的IC晶粒到IC晶粒互连制造技术
>技术资料下载
下载使用错误校正码和数据路径交织的IC晶粒到IC晶粒互连的技术资料
文档序号:28053244
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种多芯片模块包括第一集成电路(integrated circuit,IC)晶粒和第二IC晶粒。所述第一IC晶粒包括第一键合焊盘的阵列、多个第一码组电路,以及所述多个第一码组电路与所述第一键合焊盘的阵列之间的第一交织互连,所述第一交织互连包...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。