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本发明提供一种调顶深度测试装置及方法，该装置包括：光电探测单元，用于将光信号转换成电信号，并对电信号进行滤波整形输出方波电压信号；采样计算单元，通过ADC接口采样后，将采样得到的高低电平信号转换为对应的电平值，MCU根据公式计算调顶深度值；...
该专利属于武汉永鼎光通科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉永鼎光通科技有限公司授权不得商用。

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