一种调顶深度测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种调顶深度测试装置及方法，该装置包括：光电探测单元，用于将光信号转换成电信号，并对电信号进行滤波整形输出方波电压信号；采样计算单元，通过ADC接口采样后，将采样得到的高低电平信号转换为对应的电平值，MCU根据公式计算调顶深度值；结果显示模块，用于将采样计算单元的调顶深度计算结果在显示屏上进行显示输出。通过该方案可以简化光模块调顶深度测试过程，并保障测算结果的准确性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种调顶深度测试装置及方法
本专利技术涉及光通信领域，尤其涉及一种调顶深度测试装置及方法。
技术介绍
从2019年下半年开始，中国移动开始推动在5G前传领域使用带有调顶功能的MWDM光模块，并发布了一系列应用企业及行业标准，其中，对于调幅模块，将调顶深度的规格定义为3％～5％。目前，对于调顶深度的测试方式一直较为繁琐，普遍使用的有2种方式：一种是通过光探头和示波器进行测试，然后进行手工计算；另一种从模块的接收RSSI引脚飞线，用示波器测试高低电平，然后进行手工计算。然而这两种方式的调顶深度测试过程都比较繁琐。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种调顶深度测试装置及方法，以解决现有调顶深度测试方法都比较繁琐的问题。在本专利技术实施例的第一方面，提供了一种调顶深度测试装置，包括：光电探测单元，用于将光信号转换成电信号，并对电信号进行滤波整形输出方波电压信号；采样计算单元，通过ADC接口采样后，将采样得到的高低电平信号转换为对应的电平值，MCU根据公式(1)计算调顶深度值D：D＝(V1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种调顶深度测试装置，其特征在于，至少包括:/n光电探测单元，用于将光信号转换成电信号，并对电信号进行滤波整形输出方波电压信号；/n采样计算单元，通过ADC接口采样后，将采样得到的高低电平信号转换为对应的电平值，MCU根据公式(1)计算调顶深度值D：/nD＝(V1-V0)/(V1+V0)；/n式中，V1表示高电平信号电平值，V0表示低电平信号电平值；/n结果显示模块，用于将采样计算单元的调顶深度计算结果在显示屏上进行显示输出。/n

【技术特征摘要】
1.一种调顶深度测试装置，其特征在于，至少包括:
光电探测单元，用于将光信号转换成电信号，并对电信号进行滤波整形输出方波电压信号；
采样计算单元，通过ADC接口采样后，将采样得到的高低电平信号转换为对应的电平值，MCU根据公式(1)计算调顶深度值D：
D＝(V1-V0)/(V1+V0)；
式中，V1表示高电平信号电平值，V0表示低电平信号电平值；
结果显示模块，用于将采样计算单元的调顶深度计算结果在显示屏上进行显示输出。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述调顶深度测试装置还包括供电单元，用于将交流电源转换成光电探测单元、采样计算单元和结...

【专利技术属性】
技术研发人员：高南京，周志勇，石旨博，
申请(专利权)人：武汉永鼎光通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42