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本发明公开一种发光二极管晶圆检测装置与方法，发光二极管晶圆检测装置包括：一光产生模块、一光过滤模块以及一光检测模块。光产生模块提供一第一光束，第一光束穿过一发光二极管晶圆，以转换成一第二光束。光过滤模块邻近发光二极管晶圆以接收第二光束，第二...
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