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一种微结构特征的位姿高精度跟踪与检测方法，步骤：S1对由显微镜获取的第一帧图像或预存的参考图像经预处理后，作为训练帧分别送入姿态检测模块和位置检测模块进行训练，获得判别函数的参数。S2将后续帧图像经过预处理后输入姿态检测模块，经过频谱分析，...
该专利属于大连理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过大连理工大学授权不得商用。

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