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本发明公开了一种伺服驱动器老化测试方法及系统，具体包括以下步骤：S1、一次对多台伺服驱动器进行测试，人员通过触摸屏设定测试时伺服驱动器的环境温度，并将设定后的环境温度值应用于测试参数采集模块中，通过电机转速调节模块对测试伺服驱动器时的伺服电...
该专利属于武汉纽姆数控机电设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉纽姆数控机电设备有限公司授权不得商用。

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