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本发明提供一种LED芯片检测装置及LED芯片检测方法，其中LED芯片检测装置包括芯片检测台、显微物镜、中继透镜、半反半透镜、滤光片、CCD检测器、白光光源和紫外光源，芯片检测台包括固定架和载台；显微物镜、中继透镜、半反半透镜和滤光片由下至上...
该专利属于成都辰显光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都辰显光电有限公司授权不得商用。

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