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本发明公开了偏光片内污检验方法，包括如下步骤：S1、将偏光片安装于专用的检验治具上，然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上，通过输送机构输送至保护膜清除装置；S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测，然后通过保...
该专利属于惠州市富丽电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州市富丽电子有限公司授权不得商用。

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