偏光片内污检验方法技术

本发明专利技术公开了偏光片内污检验方法，包括如下步骤：S1、将偏光片安装于专用的检验治具上，然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上，通过输送机构输送至保护膜清除装置；S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测，然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除；S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内，并通过集光光学器件照射于偏光片上；S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始，从上到下，从左到右的方向移动并进行检验；S5、检验人员通过显示屏显示的数据判定该偏光片是否合格。本发明专利技术能批量进行检验，提高了检验的效率和精度，一定程度上降低了不良品流出客户端几率。

【技术实现步骤摘要】
偏光片内污检验方法
本专利技术属于偏光片内污检验领域，更具体地说，尤其涉及偏光片内污检验方法。
技术介绍
偏光片的全称是偏振光片，液晶显示器的成像必须依靠偏振光，所有的液晶都有前后两片偏振光片紧贴在液晶玻璃，组成总厚度1mm左右的液晶片，如果少了任何一张偏光片，液晶片都是不能显示图像的，3D眼镜就是运用了这种原理。偏光片贴合过程中，在贴合时滚轮上的脏污带入保护膜与偏光片基板之间，导致保护膜内脏污的现象，在现有的检验台面上，用反射灯反射检查表面不良，无法有效的发现偏光片膜内内污现象，不良品易流出客户端。目前的检验手段是通过人工对进行目视检验，但是目视检验无法有效的检出不良，需要通过专用的破坏检验方法进行检验才能降低保护膜内脏污不良的流出，并且检验覆盖面小，不良品流出客户端几率较大，而且检验的效率较低，因此，我们提出偏光片内污检验方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的偏光片内污检验方法。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：偏光片内污检验方法，包括如下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.偏光片内污检验方法，其特征在于：包括如下步骤：/nS1、将偏光片安装于专用的检验治具上，然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上，通过输送机构输送至保护膜清除装置；/nS2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测，确保偏光片保护膜面朝上，然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除；/nS3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内，并通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度，照射于偏光片上；/nS4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始，从上到下，从左到右的方向移动并进行检验，并将检验数据传输在操作端的显示屏上；/nS5、检验人员通过显示屏...

【技术特征摘要】
1.偏光片内污检验方法，其特征在于：包括如下步骤：
S1、将偏光片安装于专用的检验治具上，然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上，通过输送机构输送至保护膜清除装置；
S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测，确保偏光片保护膜面朝上，然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除；
S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内，并通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度，照射于偏光片上；
S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始，从上到下，从左到右的方向移动并进行检验，并将检验数据传输在操作端的显示屏上；
S5、检验人员通过显示屏显示的数据以及偏光片内污检验的控制计划判定该偏光片是否合格。


2.根据权利要求1所述的一种偏光片内污检验方法，其特征在于：步骤S1所述的输送机构输包括带式输送机以及安装在带式输送机两侧用于对检验治具横向限位的限位板，所述带式输送机具体为轻型固定带式输送机，所述限位板设置为表面光滑的限位板，且所述限位板与检验治具的侧边滑动连接。


3.根据权利要求1所述的一种偏光片内污检验方法，其特征在于：步骤S2所述的监控探头具体设置为红外摄像头，所述红外摄像头的波长为1.5-400微米，所述红外摄像头包括镜头、感光元件、信号处理元件，外部光线通过镜头聚焦在感光元件上，感光元件与信号处理元件电连接，所述信号处理模块输出端输出模拟信号或数字信号；所述模拟信号为CVBS、S-VIDEO、VGA；所述数字信号为ITU-RBT.656、ITU-RBT.601、ITU-RBT.1120、DVI、HDMI。


4.根据权利要求3所述的一种偏光片内污检验方法，其特征在于：所述红外摄像头还包括用于检验环境光照度的光线检验模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：张利娣，李花，雷超，朱瑞芳，
申请(专利权)人：惠州市富丽电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44