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用于半导体测试的定位清洁装置制造方法及图纸
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下载用于半导体测试的定位清洁装置的技术资料
文档序号:27993592
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本实用新型公开了一种用于半导体测试的定位清洁装置,包括中空结构的定位块(1),定位块的一个面上形成有与产品结构相匹配的定位槽(11),定位块安装在测试座(2)上,使定位槽位于测试探针(21)的上方;定位块的侧部形成有进气孔(12)并外接供气...
该专利属于上海泰睿思微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海泰睿思微电子有限公司授权不得商用。
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