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本发明公开一种MBIST电路系统，该MBIST电路系统支持外部访问芯片内部的条件下，根据MBIST状态寄存器组配置的测试控制信息和MBIST时钟源产生模块提供的时钟源，控制每一个SRAM扫描测试模块按照匹配的测试时钟信号、特定的顺序对不同块...
该专利属于珠海市一微半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海市一微半导体有限公司授权不得商用。

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