温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明实施例公开一种芯片测试信息展示方法、装置、电子设备及存储介质，涉及半导体芯片技术领域，能够克服现有技术中芯片测试数据结构关系凌乱、测试结果不直观的弊端。所述方法包括：加载晶圆上半导体芯片的测试文件；根据测试文件中测试数据对象间的层级关...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。