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本发明提供一种IC芯片检测装置，其包括机台、上料机构、检测机构和收料机构，机台包括顶部的顶板和侧面的斜板，上料机构设置在机台上，用于运输IC芯片，检测机构设置在斜板上，且位于上料机构下方，用于对上料机构运输过来的IC芯片进行检测，收料机构设...
该专利属于深圳市华力宇电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华力宇电子科技有限公司授权不得商用。

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