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用于在物理气相沉积工艺中控制离子分数的方法和设备技术
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文档序号:27940701
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公开用于在物理气相沉积工艺中控制离子分数的方法和设备。在一些实施方式中,用于处理具有给定直径的基板的处理腔室包括:内部容积和待溅射靶材,内部容积包括中心部分和周边部分;可旋转磁控管,处于靶材上方以在周边部分中形成环形等离子体;基板支撑件,设...
该专利属于应用材料公司所有,仅供学习研究参考,未经过应用材料公司授权不得商用。
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