专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
武汉大学
>
一种基于全卷积自编码器的高光谱影像异常探测方法技术
>技术资料下载
下载一种基于全卷积自编码器的高光谱影像异常探测方法的技术资料
文档序号:27938896
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及一种基于全卷积自编码器的高光谱影像异常探测方法。本发明结合全卷积自编码器网络,将高光谱遥感影像异常探测问题转换为背景与异常分离问题,网络直接重建背景,异常表现为网络重建误差,从而实现探测。构建残差连接的自适应加权全卷积自编码器,输...
该专利属于武汉大学所有,仅供学习研究参考,未经过武汉大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。